Film composition, structure and properties were characterized by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), attenuated total reflection Fourier transform infrared spectroscopy (ATR-FTIR), Raman scattering spectroscopy (Raman), atomic force microscopy (AFM). Hardness and scratch resistance were measured by nano-indentation and nano-scratch, respectively. Water contact angles were measured by sessile drop method. 
     使用X射线光电子能谱(XPS)、衰减全反射傅立叶变换红外光谱(ATR-FTIR)、激光拉曼(Raman)、原子力显微镜(AFM)、纳米压痕、纳米划痕、接触角、禁带宽度、血小板粘附试验等对薄膜的结构和性能进行了表征。