以下为句子列表：
英文: The emphasis is about the Metal line reliability, Contact reliability, Gate oxide integrity, and Hot carrier injection in test .Based on the test datum, the reliability of 1.0 μ m process on single failure mechanisms is evaluated,and all the test structur
中文: 测试内容上着重介绍了金属化完整性测试、氧化层完整性测试、连接完整性测试和热载流子注入测试，根据测试数据，对1.0μm工艺线单一失效机理的可靠性进行了评价，对不同测试结构的作用进行了说明。
更详细...
|
